日立ハイテクノロジーズは1月22日、分析計測装置を製造販売している100%子会社の日立ハイテクサイエンスが、大学共同利用機関法人情報・システム研究機構国立情報学研究所との共同研究により開発した、分光蛍光マイクロスコープ「EEM View」を国内向けに発売すると発表した。「EEM View」は、日立ハイテクサイエンスが販売している分光蛍光光度計F-7100に搭載し使用することで、試料のスペクトルデータとCMOSカメラによる蛍光・反射画像の分離表示データの同時取得を実現し、より高精度な測定が求められている材料・医薬品・食品など幅広い分野における研究開発や品質管理をサポートする。