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2017年08月1日
日立ハイテクノロジーズは8月1日、高性能FIB-SEM複合装置 「ETHOS」を開発したと発表した。「ETHOS」では新開発された電磁界重畳型レンズの採用により、サブナノメーター以下の高い観察性能を実現するとともに、FIBによるTEM用薄膜試料作製時の加工スジを抑制するACE技術を組み合わせることで高品位なTEM用薄膜試料作製が可能となっている。
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